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            光彈系數測試儀 光學玻璃光彈系數總代理

            光彈系數測試儀 光學玻璃光彈系數總代理

            1.概述

              1. 簡介

            TY-ABR-1000 裝置,在本公司制造的自動雙折射測量裝置TY-ABR-1000 系列的基礎上增設了應力載荷裝置,由此可以測量到高精度的光彈性常數。測量方法是,采用配置的拉伸/壓縮試驗機,對樣品施加載荷的同時測量光彈性常數。

            雙折射的方式,由于采用光學外差法的普通光路干涉儀,及通過Fourier分析法進行數據處理的方式, 其特點是速度快,精度高,并不受振動及空氣流動等外界干擾。干涉儀采用波長為633 nm的頻率穩定的橫向Zeeman激光器輸出2 mW)作為光源,盡量減少設備構成中的光學部件,實現了長期使用過程中,基本上無需維護的構造。

             

            2、 雙折射測量原理

            本設備使用由兩個線性偏振光分量f1,f2)組成的穩頻激光器STZL),兩個線性偏振光分量的光頻 率略有不同并且彼此正交。 該雙頻光被斜角分離器分成兩個光路,并且每個均被線性偏振器混合成外差。由光電二極管進行光電轉換的拍頻信號fb = f1-f2)為幾百kHz,可以通過示波器或電相位計讀取。 

            以此方式,樣品的光學相位差δ)被轉換為拍頻信號的相位差δ),并且可以容易地被測量。如圖所示,通過使半波片和線性偏振片同步旋轉來獲得樣品的主軸方向φ)。

             

                • 相位差:Re

                  Re=(λ/2π)δ=(n-n)d   

             

            ?λ :光源波長

            ?δ :實測相位差   

            ?,n :主折射率

            ?      :樣品厚度 

             

                • 主軸方位角:φ 


             

            產品特點

            Features

            主要運用于:光學玻璃  透明塑膠,航空航天 觸摸屏  鋰鋁硅玻璃  微晶玻璃光彈系數檢測。

            技術參數

            Specifications

            主要規格

            1.4.1 光彈性常數的測量性能及規格性能

            測 量 范 圍 :

            0.1~200 (×10-12/Pa) 前 后

             

            重復精 度 * :

            2%以下

            以 TAC(三乙酰纖維素)薄膜作為被測樣品測量時

            測 量 方 法 :

             

             

             

             

             

             

             

            (1) 壓縮模式; 

            對類似于普通玻璃的硬質樣品施加壓縮載荷進行測量的模式(標準樣品形狀;φ20,t15mm)

            (2) 拉伸模式; 

                        對類似于薄膜的軟質樣品施加拉伸載荷進行測量的模式

            有關例如啞鈴形或條形薄膜等其他形狀的樣品,將另行協商 

            (利用初始雙折射量校準功能,可以使該測量不受樣品初始條件的影響)

            載 荷 范 圍 :

            0~50N (最小每 0.1N 程序)

             

            規格

             

            轉換模式:

            壓縮模式及拉伸模式

            驅動系統 :

            采用步進馬達同時驅動左右螺釘

            模式切換:

            可通過軟件切換(但是,樣品卡盤需要手動切換)

            拉伸/壓縮速度:

            0.01~100mm/min

            拉伸/壓縮距離:

            100mm MAX

            稱重傳感器:

            額定 50N 可更換為 200N,1000N)

             

            1.4.2 雙折射測量性能及規格性能

            測 量 項 目 :

            ○ 雙折射相位差:Re

            (光學相位差:δ)

            ○ 主軸方位角:φ 

            測 量 范 圍 :

            0~260nm

            (0~150deg.)

            0±90deg.

             

            0.01nm

            (0.006deg.)

            0.1deg.

             

               

            重 復 精 度 :

            ±0.5nm

            (±0.3deg.)

            ±0.5deg.

            (水晶材質的相位差板(1/4λ)在正常的檢驗室環境下測量的實際值

            為3σ)

            測 量 時 間 :

            3秒以下/測量點(同時測量相位差及方位角)

             

            規格

            測 量 原 理 :

            光學外差測量法(雙折射量 Re,主軸方位角 φ)

              

            He-Ne 激光(λ=633nm;輸出 2mW) [穩頻橫向 Zeeman 激光器]

            光 束 直 徑 :

            φ0.75mm(1/e2)

             

            一鍵撥號



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